The Effect of Post-Annealing on XRD Pattern of DC Sputtered ZnO/SiO2 Structure

GÜL F., EFEOĞLU H.

8th International Advanced Technologies Symposium (IATS17), 19 - 21 Ekim 2017

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Recep Tayyip Erdoğan Üniversitesi Adresli: Hayır