ZnO ince film örneklerinde optik ve XRF parametrelerinin incelenmesi

---

Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Recep Tayyip Erdoğan Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2012

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: Murat Şirin

Asıl Danışman (Eş Danışmanlı Tezler İçin): Hasan Baltaş

Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu

Özet:

Bu çalışmada, farklı sıcaklıklarda tavlanmış ZnO ince film örnekleri döndürme kaplamayla ilişkili sol-jel tekniği kullanılarak cam altlıklar üzerine büyütüldü. İnce film örneklerinin yapısal ve optik özellikleri X-ışını kırınım analizi (XRD) ve UV-Vis ile belirlendi. Amorf yapıdan polikristal yapıya geçişi en iyi 500 0C tavlama sıcaklığında gözlemlendi. Ayrıca, örneklerin Kß/K? şiddet oranları ve K kabuğu floresans tesir kesitleri gibi XRF parametreleri belirlendi. XRF ( X-ışını floresans) parametreleri ölçümü için örnekler aktivitesi 10 mCi olan Am-241 kaynağıyla uyarılmıştır. Örneklerden yayımlanan K X-ışınları 5.9 keV'de çözünürlüğü 150 eV olan Ultra-LEGe dedektörü ile sayıldı. ZnO ince film örneklerindeki Zn elementinin Kß/K? şiddet oranları ve K kabuğu floresans tesir kesitleri, ısıl tavlama sıcaklığının artmasının etkisine bağlı olarak değişti. Ölçülen değerler saf Zn elementinin literatürde hesaplanmış olan teorik ve deneysel değerleriyle karşılaştırıldı.Anahtar Kelimeler : İnce film, XRF, Floresans tesir kesiti, Kß/K? şiddet oranları