A simplified method to determine carrier transport mechanisms of metal-oxide resistive random access memory (RRAM) devices

GÜL F.

2nd International Congress on Semiconductor Materials and Devices” (ICSMD-2018), Ardahan, Türkiye, 28 - 30 Ağustos 2018

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Ardahan
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Recep Tayyip Erdoğan Üniversitesi Adresli: Hayır